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    一(yi)切(qie)電(dian)(dian)(dian)(dian)子裝置如洗衣機(ji)、冰箱、空調、計算機(ji)、儀器、儀表、汽車電(dian)(dian)(dian)(dian)子等(deng)都(dou)是(shi)(shi)形形色色的,不(bu)同功(gong)能的電(dian)(dian)(dian)(dian)子電(dian)(dian)(dian)(dian)路組成(cheng)。根(gen)據(ju)張飛第(di)三大定律組成(cheng)電(dian)(dian)(dian)(dian)子電(dian)(dian)(dian)(dian)路的基本單位是(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)子元器件(jian)，這些器件(jian)都(dou)是(shi)(shi)以硬件(jian)的形式(shi)存在的，它(ta)們(men)都(dou)有各自的電(dian)(dian)(dian)(dian)氣(qi)(qi)參數(shu)，如電(dian)(dian)(dian)(dian)壓電(dian)(dian)(dian)(dian)流及功(gong)率特性(xing)等(deng)，因此，元器件(jian)是(shi)(shi)最易損(sun)(sun)(sun)壞(huai)(huai)的物品(pin)，但其故(gu)障卻是(shi)(shi)有規律可循的。一(yi)般的故(gu)障表現為電(dian)(dian)(dian)(dian)氣(qi)(qi)參數(shu)損(sun)(sun)(sun)壞(huai)(huai)和(he)物理損(sun)(sun)(sun)壞(huai)(huai)兩(liang)類，那么電(dian)(dian)(dian)(dian)氣(qi)(qi)參數(shu)的損(sun)(sun)(sun)壞(huai)(huai)又包含電(dian)(dian)(dian)(dian)壓電(dian)(dian)(dian)(dian)流超過額(e)定值導(dao)致(zhi)的損(sun)(sun)(sun)壞(huai)(huai)，物理的損(sun)(sun)(sun)壞(huai)(huai)包括斷裂，變(bian)形，阻值參數(shu)變(bian)化等(deng)表現形式(shi)。

一(yi)、電阻損壞的特(te)點

    電(dian)阻(zu)是(shi)電(dian)器設備中數量最(zui)多的元件，但不是(shi)損壞率最(zui)高的元件。電(dian)阻(zu)損壞以開路最(zui)常見(jian)，阻(zu)值變大較少(shao)見(jian)，阻(zu)值變小十分少(shao)見(jian)。常見(jian)的有碳膜電(dian)阻(zu)、金屬(shu)膜電(dian)阻(zu)、線繞電(dian)阻(zu)和保險(xian)電(dian)阻(zu)幾(ji)種。

    前兩種電阻(zu)(zu)應用最廣，其損(sun)(sun)壞的(de)特點：一(yi)是(shi)低(di)阻(zu)(zu)值(zhi)（100Ω以下(xia)）和(he)高(gao)阻(zu)(zu)值(zhi)（100kΩ以上）的(de)損(sun)(sun)壞率較高(gao)，中間阻(zu)(zu)值(zhi)（如幾百歐(ou)到幾十千歐(ou)）的(de)極少損(sun)(sun)壞；二是(shi)低(di)阻(zu)(zu)值(zhi)電阻(zu)(zu)損(sun)(sun)壞時(shi)往往是(shi)燒焦發黑，很(hen)(hen)容易發現，而(er)高(gao)阻(zu)(zu)值(zhi)電阻(zu)(zu)損(sun)(sun)壞時(shi)很(hen)(hen)少有痕跡。

    線(xian)(xian)繞電(dian)阻(zu)一般用(yong)作大(da)(da)電(dian)流(liu)限(xian)流(liu)，阻(zu)值不大(da)(da)。圓柱形線(xian)(xian)繞電(dian)阻(zu)燒壞(huai)(huai)時有(you)(you)(you)的(de)(de)會(hui)發黑(hei)或表(biao)(biao)面爆(bao)皮、裂紋，有(you)(you)(you)的(de)(de)沒(mei)有(you)(you)(you)痕(hen)跡(ji)。水(shui)泥電(dian)阻(zu)是線(xian)(xian)繞電(dian)阻(zu)的(de)(de)一種(zhong)，燒壞(huai)(huai)時可能會(hui)斷裂，否則也(ye)沒(mei)有(you)(you)(you)可見痕(hen)跡(ji)。保險電(dian)阻(zu)燒壞(huai)(huai)時有(you)(you)(you)的(de)(de)表(biao)(biao)面會(hui)炸掉一塊皮，有(you)(you)(you)的(de)(de)也(ye)沒(mei)有(you)(you)(you)什么痕(hen)跡(ji)，但絕不會(hui)燒焦發黑(hei)。根據以上特點(dian)，在(zai)檢查電(dian)阻(zu)時可有(you)(you)(you)所側重(zhong)，快速找(zhao)出損壞(huai)(huai)的(de)(de)電(dian)阻(zu)。

二、電解(jie)電容損壞的特點

電(dian)(dian)解電(dian)(dian)容在(zai)電(dian)(dian)器設備中的用量很大，故障率很高。電(dian)(dian)解電(dian)(dian)容損壞有以下幾(ji)種表現(xian)：

一是完全失(shi)去(qu)容量(liang)或容量(liang)變(bian)小；

二是輕微或(huo)嚴重漏電；

三是失去容量或(huo)容量變小兼有漏電。

查(cha)找損(sun)壞的電解電容方(fang)法(fa)有：

（1）看：有(you)的(de)(de)電容損(sun)壞(huai)時(shi)會(hui)漏液，電容下面(mian)的(de)(de)電路板表(biao)面(mian)甚(shen)至電容外表(biao)都(dou)會(hui)有(you)一層油漬，這(zhe)種電容絕對不(bu)能再用；有(you)的(de)(de)電容損(sun)壞(huai)后(hou)會(hui)鼓起，這(zhe)種電容也不(bu)能繼(ji)續使用；

（2）摸(mo)：開機后有些漏(lou)電嚴重的電解(jie)電容會(hui)發熱，用手指觸摸(mo)時甚至會(hui)燙手，這種電容必須更換；

（3）電(dian)(dian)(dian)解(jie)電(dian)(dian)(dian)容內(nei)部有電(dian)(dian)(dian)解(jie)液(ye)，長時間烘烤(kao)會使(shi)電(dian)(dian)(dian)解(jie)液(ye)變干，導(dao)致電(dian)(dian)(dian)容量減小，所以要(yao)重點檢查散熱片(pian)及大(da)功率元器件附近的電(dian)(dian)(dian)容，離(li)其越(yue)近，損壞的可能性(xing)就(jiu)越(yue)大(da)。

三(san)、二極管、三(san)極管等半導體器件損壞的特(te)點

三(san)極管(guan)的損壞(huai)(huai)一(yi)般是PN結(jie)擊穿或開路，其中以擊穿短路居多。此外還有兩(liang)種損壞(huai)(huai)表現：

一(yi)是熱(re)穩定性變差，表現(xian)為開機時(shi)(shi)正常，工作一(yi)段時(shi)(shi)間后(hou)，發生軟擊穿(chuan)；
另一(yi)種是(shi)PN結的特性變差，用萬用表(biao)R×1k測，各PN結均(jun)正(zheng)常，但上機(ji)后不能(neng)正(zheng)常工作，如果用R×10或R×1低量程檔測，就會發現其PN結正(zheng)向阻(zu)值比正(zheng)常值大。

測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量，較準確的方法是(shi)：

將(jiang)萬用表(biao)置R×10或R×1檔（一般用R×10檔，不明顯時(shi)再用R×1檔）在(zai)路測二、三(san)極管的(de)PN結(jie)(jie)正、反向(xiang)(xiang)(xiang)電(dian)阻(zu)(zu)，如果正向(xiang)(xiang)(xiang)電(dian)阻(zu)(zu)不太(tai)大（相對(dui)正常值(zhi)），反向(xiang)(xiang)(xiang)電(dian)阻(zu)(zu)足夠大（相對(dui)正向(xiang)(xiang)(xiang)值(zhi)），表(biao)明該PN結(jie)(jie)正常，反之就(jiu)值(zhi)得(de)懷疑，需焊(han)下(xia)后再測。這(zhe)是因為(wei)一般電(dian)路的(de)二、三(san)極管外(wai)圍電(dian)阻(zu)(zu)大多在(zai)幾(ji)百、幾(ji)千歐以(yi)上，用萬用表(biao)低(di)阻(zu)(zu)值(zhi)檔在(zai)路測量(liang)，可(ke)以(yi)基本忽(hu)略外(wai)圍電(dian)阻(zu)(zu)對(dui)PN結(jie)(jie)電(dian)阻(zu)(zu)的(de)影響。

四、集成(cheng)電路損壞的特(te)點

集(ji)(ji)成(cheng)電路(lu)內部(bu)結構復雜，功能(neng)很多，任何一(yi)部(bu)分損壞都(dou)無法(fa)正常(chang)(chang)工作(zuo)。集(ji)(ji)成(cheng)電路(lu)的損壞也(ye)有兩(liang)種：徹(che)(che)底損壞、熱穩定(ding)性不良(liang)。徹(che)(che)底損壞時，可(ke)將其(qi)(qi)拆下，與正常(chang)(chang)同型號集(ji)(ji)成(cheng)電路(lu)對(dui)比測其(qi)(qi)每一(yi)引腳對(dui)地(di)的正、反向電阻，總能(neng)找到其(qi)(qi)中一(yi)只(zhi)或(huo)幾只(zhi)引腳阻值異常(chang)(chang)。對(dui)熱穩定(ding)性差的，可(ke)以(yi)在設備(bei)工作(zuo)時，用(yong)無水酒精(jing)冷卻被懷疑的集(ji)(ji)成(cheng)電路(lu)，如果(guo)故障(zhang)(zhang)發(fa)(fa)生時間推遲或(huo)不再發(fa)(fa)生故障(zhang)(zhang)，即可(ke)判定(ding)。通常(chang)(chang)只(zhi)能(neng)更換新集(ji)(ji)成(cheng)電路(lu)來排除。